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电子衍衬分析原理与图谱

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电子衍衬分析原理与图谱

Pdg2Pic, 黄孝瑛,侯耀永等著
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封面 1
书名 2
版权 3
前言 4
目录 6
上篇 原理与方法 14
第一章 绪论 14
1.1 引言 14
1.2 电子显微镜图像的衬度 14
1.2.1 质厚衬度 15
1.2.2 衍射衬度 15
1.2.3 相位衬度 16
1.3 电子显微学在材料科学中的应用 16
1.3.3 相变过程研究 17
1.3.2 界面结构研究 17
1.3.1 晶体缺陷研究 17
第二章 电子衍衬成像理论 19
2.1 电子衍衬成像理论发展概述 19
2.2 衍衬成像的运动学理论 20
2.2.1 运动学理论的基本假设和适用界限 20
2.2.2 完整晶体的运动学理论 23
2.2.3 不完整晶体的运动学理论 28
2.3 衍衬成像的动力学理论 30
2.3.1 引言 30
2.3.2 完整晶体的动力学理论 31
照片95 Si(上部)在蓝宝石膜上外延生长的界面HREM结构相 35
2.3.3 不完整晶体的动力学理论 36
第三章 衍衬成像实验分析技术总论 38
3.1 衍衬实验条件 38
3.2 衍衬分析所需参数及测定方法 39
3.2.1 操作反射g 40
3.2.2 试样取向相对于布拉格位置的偏离矢量s 40
3.2.3 消光距离ξ8 41
3.2.4 精确测定试样的晶体学取向 47
3.2.5 试样厚度测定 48
第四章 晶体中的位错与层错 51
4.1 引言 51
4.2 位错基本概念 51
4.2.1 位错概念的提出和位错形成几何学 51
4.2.2 柏氏矢量b的基本性质 54
4.3 典型金属中的位错 56
4.3.1 面心立方金属中的位错-汤普森(Thompson)作图法 56
4.3.3 全位错分解、层错、扩展位错 58
4.3.2 密排六方金属中的位错-玻赞(Berghzan)作图法 58
4.4 金属形变、强化和断裂的位错理论 70
4.4.1 金属的范性形变与位错 70
4.4.2 金属与合金强化的位错机制 74
4.4.3 金属断裂的位错理论 80
第五章 位错和层错的电子衍衬分析 90
5.1 位错柏氏矢量(Burgers Vector)b测定 90
5.1.1 判据的建立 90
5.1.2 b测定的实际操作 92
5.2 位错衬度分析 101
5.2.1 位错双像 101
5.2.3 不全位错衬度消失判据 102
5.2.2 位错偶和超点阵位错 102
5.2.4 位错环分析 103
5.2.5 几种典型位错组态分析示例 105
5.2.6 动力学效应对像衬的影响 111
5.3 位错密度测定 112
5.3.1 概述 112
5.3.2 电镜方法测量位错密度的原理和方法 113
5.4 扩展位错分析 114
5.4.1 概述 114
5.4.2 扩展位错分析 115
5.5 层错能测定 118
5.6 弱束成像原理与实验技术 119
5.6.1 弱束成像的原理 120
5.6.2 弱束成像的实验操作 121
第六章 界面的电子显微学研究 124
6.1 引言 124
6.2 晶界结构的现代理论 124
6.2.1 晶界位错模型 125
6.2.2 重位点阵(CSL)模型 128
6.2.3 O-点阵模型 129
6.2.4 DSC点阵模型 131
6.2.5 多面体堆垛模型 132
6.2.6 结构单元模型 132
6.3 研究晶界的电子显微镜方法 133
6.3.1 电子衍衬方法 133
6.3.2 高分辨电子显微术 135
6.3.3 电子衍射方法 149
6.3.4 背散射电子衍射-取向成像电子显微术(EBSP) 154
第七章 材料中的第二相及其电子显微分析方法 156
7.1 引言 156
7.2 电镜工作研究第二相的哪些问题 156
7.3 由第二相引起的衬度类型 157
7.3.1 基体应变衬度 158
7.3.2 第二相衬度 160
7.3.3 两相界面衬度 161
7.4 第二相的电子衍射谱特征 165
7.4.1 衍射物质的形状效应 165
7.4.2 第二相和某些结构特征引起的衍射效应 166
7.5 两相取向关系测定 167
7.5.1 概述 167
7.5.2 电子衍射测定两相取向关系的一般步骤 169
7.5.3 取向关系衍射数据分析 170
7.6 迹线分析方法 174
7.6.1 线状结构特征的取向分析 174
7.6.2 平面结构特征的晶体学分析 177
下篇 衍衬图谱 182
照片1 孪晶的电子显微图像 182
照片2 Si02单晶中的位错组态 183
照片3 6.5%A1一Ni基合金中的位错塞积列 184
照片4 不锈钢中界面位错和位错平面滑移形成的塞积列 184
照片5 不锈钢中晶界滑移台阶 185
照片6 Ni基高温合金中的晶界滑移 185
照片7…
Año:
2000
Edición:
2000
Editorial:
济南:山东科学技术出版社
Idioma:
Chinese
ISBN 10:
7533123824
ISBN 13:
9787533123826
Archivo:
PDF, 26.64 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
Chinese, 2000
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